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奥林巴斯 BX53P 偏光显微镜

Olympus BX53-P偏光显微镜结合了UIS2无限校正光学系统和独特的光学设计，为偏振光应用提供了卓越的性能。兼容补偿器的扩展系列使BX53-P显微镜具有足够的通用性，能够处理几乎任何领域的观察和测量应用。...

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偏振光观测的新标准

Olympus BX53-P偏光显微镜结合了UIS2无限校正光学系统和独特的光学设计，为偏振光应用提供了卓越的性能。兼容补偿器的扩展系列使BX53-P显微镜具有足够的通用性，能够处理几乎任何领域的观察和测量应用。

UIS2光学系统最大限度地发挥了无限校正的优势，有助于防止光学显微镜性能下降并消除放大系数，即使在光路中引入了偏振元件，如分析仪、色板或补偿器。BX53-P显微镜还接受BX3系列显微镜可用的中间附件，以及摄像机和成像系统。

UIS2 Optics Provide Outstanding Expandability

石英闪长岩中斜长石的带状结构。*刻度表示样品的实际尺寸

UIS2 Optics Provide Outstanding Expandability

MBBA *标尺的光学纹理表示样品的实际尺寸

	锥光和正光观察用贝特朗透镜有了锥光观察附件，在无畸变和锥光观察之间的切换很简单。它是可聚焦的，用于观察清晰的后焦面干涉图案。Bertrand透镜是可聚焦的，用于清晰地观察后焦平面干涉图案。视场光阑使得始终获得清晰的锥光图像成为可能。

Bertrand Lens for Conoscopic and Orthoscopic Observations

有了锥光观察附件，在无畸变和锥光观察之间的切换很简单。它是可聚焦的，用于观察清晰的后焦面干涉图案。Bertrand透镜是可聚焦的，用于清晰地观察后焦平面干涉图案。视场光阑使得始终获得清晰的锥光图像成为可能。

六种不同的补偿器可用于测量岩石和矿物薄片的双折射。测量延迟水平范围从0到20λ。为了便于测量和高图像对比度，Berek和Senarmont
可以使用补偿器来改变整个视场中的延迟水平。

An Extensive Range of Compensators and Wave Plates

补偿器的测量范围

补偿器	测定范围	应用程序
厚贝雷片 (CTB大学)	0–11000纳米 (20λ)	测量高阻滞水平(R*>3λ)，(晶体、大分子、纤维等)。)
贝雷克 (U-CBE)	0–1640纳米 (3λ)	阻滞水平的测量(晶体、大分子、活生物体等。)
塞纳蒙特补偿器 (U-CSE)	0–546纳米 (1λ)	阻滞水平的测量(晶体、活生物体等。); 图像对比度的增强(活体等。)
布拉斯-克勒补偿器1/10λ (U-CBR1)	0-55纳米 (1/10λ)	低阻滞水平(活生物体等)的测量。)
布拉斯-克勒补偿器1/30λ (U-CBE2)	0-20纳米 (1/30λ)	图像对比度的测量(活体等。)
石英楔 (U-CWE2)	500-2200纳米 (4λ)	阻滞水平的近似测量(晶体、大分子等。)

*R =延迟水平
为了更精确的测量，我们建议补偿器(除了U-CWE2)与干扰过滤器45-IF546一起使用

	最小应变光学我们的偏振光物镜将内部应变降至最低。这意味着更高的EF值，从而产生出色的图像对比度。

Minimal Strain Optics

我们的偏振光物镜将内部应变降至最低。这意味着更高的EF值，从而产生出色的图像对比度。

附在旋转台上的旋转定心机构使得样品能够平稳旋转。此外，每45度有一个点击停止机制，以精确测量。使用可选的双机械载物台，谨慎的X-Y移动是可能的。

双机械级